基于高斯面均匀采样的寄生电容提取方法及装置.pdfVIP

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2023-05-19 发布于北京
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基于高斯面均匀采样的寄生电容提取方法及装置.pdf

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本申请涉及一种基于高斯面均匀采样的寄生电容提取方法、装置、电子装置及存储介质，该方法包括：将目标导体所对应的高斯面的预设区域划分为多个面积相等的面积元；将所有面积元分配给多个工作线程；在工作线程进行随机行走时，在工作线程所对应的面积元上进行采样，得到工作线程所对应的面积元上的采样点；从每个采样点开始随机行走，在所有工作线程结束随机行走时，计算目标导体所对应的寄生电容值。通过本申请，解决了高斯面上的采样点分布不均匀导致的寄生电容提取精度低的问题，实现了在高斯面上均匀采样，进而提高寄生电容的提取精度

(19)国家知识产权局 (12)发明专利申请 (10)申请公布号 CN 114880985 A (43)申请公布日 2022.08.09 (21)申请号 202210402833.5 (22)申请日 2022.04.18 (71)申请人杭州行芯科技有限公