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2023-05-19 发布于北京
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一种芯片测试装置.pdf

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本发明属于芯片测试技术领域，公开了一种芯片测试装置。该芯片测试装置包括测试座、压盖、压头机构和清洁机构，测试座具有卡固槽，卡固槽用于安装被测试芯片；压盖与测试座转动连接；压头机构转动设于压盖上，压头机构能抵接于被测试芯片的顶面，转动压头机构，压头机构能挤压被测试芯片，以使测试座上的探针刺破被测试芯片上的锡球；清洁机构设于测试座上，清洁机构能对探针进行清洁处理。本发明提供的芯片测试装置，通过设置清洁机构，清洁机构对探针进行清洁处理，防止过多的锡渣粘连到探针上，使探针的阻抗过大，提高了测试稳定性。

(19)国家知识产权局 (12)发明专利申请 (10)申请公布号 CN 114879018 A (43)申请公布日 2022.08.09 (21)申请号 202210704068.2 (22)申请日 2022.06.21 (71)申请人上海捷策创电子科技有限公司地址