一种面板缺陷检测方法、存储介质及终端设备.pdfVIP

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2023-05-20 发布于北京
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一种面板缺陷检测方法、存储介质及终端设备.pdf

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本申请公开了一种面板缺陷检测方法、存储介质及终端设备，所述方法包括获取待检测的面板图像；确定所述面板图像对应主成分矩阵，基于所述主成分矩阵以及所述面板图像，确定所述面板图像对应的预测图像；基于所述预测图像及所述面板图像，识别所述面板图像中的缺陷区域。本申请通过主成分矩阵确定面板图像进行重构以得到面板图像对应的预测图像，并基于预测图像与面板图像来确定面板图像中的缺陷区域，这样可以提高缺陷需要检测的准确性。

(19)国家知识产权局 (12)发明专利申请 (10)申请公布号 CN 114926385 A (43)申请公布日 2022.08.19 (21)申请号 202110148640.7 (22)申请日 2021.02.02 (71)申请人 TCL科技集团股份