一种基于FPGA的交流电磁场检测缺陷轮廓反演方法.pdfVIP

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2023-05-20 发布于北京
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一种基于FPGA的交流电磁场检测缺陷轮廓反演方法.pdf

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本发明公开本发明公开一种基于FPGA的交流电磁场检测缺陷轮廓反演方法，将FPGA采集到交流电磁场检测得到的缺陷特征信号图像进行灰度处理，得到灰度图像，减小了图像的数据量，加快了图像处理速度，将灰度图像进行高斯滤波后，进行双向梯度处理并进行二值化处理，得到二值化图像，滤除噪声的干扰，剔除图像中的背景，对二值化图像进行二值形态学滤波，去除二值化图像中的干扰信号，通过腐蚀运算将所述二值化图像中的噪声点去除，然后通过膨胀算法还原缺陷形貌，实现缺陷轮廓反演，本发明提出的方法利用FPGA，实现了交流电磁场检

(19)国家知识产权局 (12)发明专利申请 (10)申请公布号 CN 114926425 A (43)申请公布日 2022.08.19 (21)申请号 202210519637.6 (51)Int.Cl.