芯片检验报告单.doc

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芯片检验报告单 客户全称: 商品名称: 到货日期: 检验日期: 到货数量: 检验数量: 外包装号码: 产品货号: 到货明细及故障现象描述 芯片包装无破损 □ 芯片实物与来料芯片是否一致 □ 来料芯片标签清晰 □ 采购数量与到货数量是否相符 □ 退库原因 检 查 记 录 检验项目 检 验 记 录 1.外观检验 IC表面清洁 □ IC字体丝印清晰 □ IC无破损断脚现象 □ IC表面无打磨翻新现象 □ IC表面无氧化现象 □ IC引脚平行长短一致 □ IC引脚无弯曲变现象 □ 2、要求 1:IC主体长,宽,高符合规格书要求 2:IC引脚长,宽,高和间距符合规格书要求 3:IC引脚经上锡后表面应光亮 4:经可焊性后,上锡面应在98%以上 5:IC焊到成品电路上是否功能匹配 6:对IC的烧写性能的测试 7:检验完毕后留取样本并用标签记录详细信息封装留存 检验员: 日期: 检验处意见 测试结果: 建议入库工厂及库别: 半成品库□ 成品库□ 不良品库□ 其他□ 经理: 日期:

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