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2023-05-24 发布于四川
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一种LED芯片测试驱动电路、制作方法及芯片测试方法.pdf

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本发明涉及一种LED芯片测试驱动电路、制作方法及芯片测试方法。LED芯片测试驱动电路包括若干P电极层、若干N电极层、若干P电极电路及若干N电极电路，用于将LED芯片阵列中同列芯片的P电极电连接并引出统一接线端以及同行LED芯片的N电极电连接并引出统一接线端。本发明通过在完成LED芯片制作的LED晶圆上直接制作LED芯片测试驱动电路，可通过外接无源选址驱动扫描电信号、以无源选址驱动模式快速逐点测试LED晶圆上的LED芯片，不需要点测机，可节约巨额的设备投资，极大的降低芯片测试成本，同时大幅度提高芯

(19)中华人民共和国国家知识产权局 (12)发明专利申请 (10)申请公布号 CN 112201646 A (43)申请公布日 2021.01.08 (21)申请号 202011041118.0 (22)申请日 2020.09.28 (71)申请人申广地址 116

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