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在透射型电子显微镜的样品的制作方法中,在从被加工体即激光二极管切出包含多量子阱有源层(4)的长方体形状的块状体(27)后,制作出在块状体(27)的上表面的相邻的角部形成有能够对表面部有源层(10)进行辨识的倾斜斜切部(5、5a、5b)的样品(24),然后将该样品(24)薄膜化,并且以倾斜斜切部(5、5a、5b)的能够辨识的2个表面部有源层(10)为基准切出观察用样品(28)。
(19)中华人民共和国国家知识产权局
(12)发明专利申请
(10)申请公布号 CN 112204374 A
(43)申请公布日 2021.01.08
(21)申请号 201880093642.7 (51)Int.Cl.
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