- 1、本文档共9页,其中可免费阅读8页,需付费10金币后方可阅读剩余内容。
- 2、本文档内容版权归属内容提供方,所产生的收益全部归内容提供方所有。如果您对本文有版权争议,可选择认领,认领后既往收益都归您。
- 3、本文档由用户上传,本站不保证质量和数量令人满意,可能有诸多瑕疵,付费之前,请仔细先通过免费阅读内容等途径辨别内容交易风险。如存在严重挂羊头卖狗肉之情形,可联系本站下载客服投诉处理。
- 4、文档侵权举报电话:400-050-0827(电话支持时间:9:00-18:30)。
- 5、该文档为VIP文档,如果想要下载,成为VIP会员后,下载免费。
- 6、成为VIP后,下载本文档将扣除1次下载权益。下载后,不支持退款、换文档。如有疑问请联系我们。
- 7、成为VIP后,您将拥有八大权益,权益包括:VIP文档下载权益、阅读免打扰、文档格式转换、高级专利检索、专属身份标志、高级客服、多端互通、版权登记。
- 8、VIP文档为合作方或网友上传,每下载1次, 网站将根据用户上传文档的质量评分、类型等,对文档贡献者给予高额补贴、流量扶持。如果你也想贡献VIP文档。上传文档
查看更多
本发明公开了一种高速信号频率测量与信号完整性的测试方法,通过集成电路数模测试系统与可编程数字系统相结合,测试系统触发信号与外围测试电路数字信号同步,产生100M的方波和数据来检验芯片是否能正常工作。当外围测试电路检测到所述集成电路数模测试系统的使能信号时,对应产生100M的方波信号或预设置好的数据信号给被测数字芯片,这两个使能信号的优先级相同,然后采样所述被测数字芯片的输出,其中,需要将采集到的输出波形进行逻辑运算十分频成10M方波后进行频率测量,并将处理后的结果返回给测试系统,测试系统根据数据
(19)中华人民共和国国家知识产权局
(12)发明专利申请
(10)申请公布号 CN 112198422 A
(43)申请公布日 2021.01.08
(21)申请号 202011115382.4
(22)申请日 2020.10.19
(71)申请人 南京宏泰半导体科技有限公司
文档评论(0)