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此发明公开了一种基于不良Map图的缺陷模式分析方法,涉及智能制造与人工智能技术领域。此发明对显示面板的不良归类分析,构造了一种基于DBSCAN密度聚类的方法,将不良信息快速定位到不良类型中,解决了现有方式存在效率较低、易遗漏某些因素、难于找到真正缺陷模式多种类的技术问题,能够快速且准确实现找到复杂缺陷种类的技术效果。同时解决了现有划分方法速度慢精度低不便于大数据分析的问题,此发明中的方法更适合大数据计算和自动化分析,精度高,速度快,是一种高效准确的自动缺陷分类方法。
(19)中华人民共和国国家知识产权局
(12)发明专利申请
(10)申请公布号 CN 112184691 A
(43)申请公布日 2021.01.05
(21)申请号 202011088439.6
(22)申请日 2020.10.13
(71)申请人 上海喆塔信息科技有限公司
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