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本发明涉及一种基于单晶硅片的可调式磨削装置及单晶硅片的磨削加工方法,适用于精磨加工或常规磨削加工后经检测硅片面型不达标的小批次再加工。在磨削加工中,根据位移传感器可视化曲线、硅片面型参数的在线测量结果,传递信号至装置内部位移传感器嵌入式驱动装置及各可调式支撑轴的液压式方向控制回路,通过控制信号使加工中发生倾斜的磨削盘水平、使各支撑轴独立并精确地调节磨削面型的凸凹度δ和饱满度ε,确保加工后的硅片具有高竞争力的质量和精度。
(19)中华人民共和国国家知识产权局
(12)发明专利申请
(10)申请公布号 CN 112222989 A
(43)申请公布日 2021.01.15
(21)申请号 202011036777.5
(22)申请日 2020.09.28
(71)申请人 万华化学集团电子材料有限公司
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