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本发明公开了一种基于“分割+决策”的二阶段残差注意力网络的导光板缺陷检测方法,包括以下步骤:步骤1、导光板图像采集;步骤2、导光板图像预处理;步骤3、建立并训练、测试“分割+决策”的二阶段残差注意力网络,包括分割子网和决策子网,然后保存并输出训练好的“分割+决策”的二阶段残差注意力网络;步骤4、使用训练好的“分割+决策”的二阶段残差注意力网络进行缺陷检测,并获得结果。采用本发明的方法,能实现从采集的导光板图像中快速、准确的分辨出导光板上的划痕或缺陷的目的。
(19)中华人民共和国国家知识产权局
(12)发明专利申请
(10)申请公布号 CN 112233059 A
(43)申请公布日 2021.01.15
(21)申请号 202010814606.4 G06K 9/62 (2006.01)
(22)申请日 20
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