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2023-05-25 发布于四川
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一种半导体器件故障检测装置.pdf

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本发明公布了一种半导体器件故障检测装置，包括底座，底座的顶部连接有壳体，壳体的顶部右侧嵌合安装有故障指示灯，壳体的内壁连接有绝缘层，壳体的内腔上部横向设有线芯，线芯的左右两端分别连接有电接头和工作指示灯，线芯的外部套设有保护套，保护套内安装有感应线圈，壳体的前侧壁下部嵌合安装有收纳盒，收纳盒前端开口设置，收纳盒的左右两侧壁均贯穿有活动管，两组活动管相靠近的一端对称连接有金属板，活动管内贯穿有导线；本发明结构设计合理，操作简单，降低了检测难度，提高了装置的适用性，易于掌握，提高了检测效率，延长了装

(19)中华人民共和国国家知识产权局 (12)发明专利申请 (10)申请公布号 CN 112213608 A (43)申请公布日 2021.01.12 (21)申请号 202011086458.5 (22)申请日 2020.10.12 (71)申请人陶金地址 5180

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