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一种混合集成电路检测系统及方法.pdfVIP

一种混合集成电路检测系统及方法.pdf

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    本发明提出一种混合集成电路检测系统及方法，包括资源盒和检测夹具，所述的检测夹具包括PCB板、承载板、信号输入接口、检测探针结构和推动结构，资源盒与检测夹具之间通过信号输入接口进行电信号传递，PCB板和承载板平行固定，两者之间存在一定空隙，检测探针结构和推动结构安装在承载板上。本发明采用了特殊的检测夹具，金属弹簧探针与器件管脚柔性接触，在保证与器件管脚的有效接触的同时，避免了对管脚的伤害。

    (19)中华人民共和国国家知识产权局 (12)发明专利申请 (10)申请公布号 CN 112285523 A (43)申请公布日 2021.01.29 (21)申请号 20191

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