一种可应用于物体线性位移或转角位置的检测方法.pdfVIP

一种可应用于物体线性位移或转角位置的检测方法.pdf

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本发明涉及一种可应用于物体线性位移或转角位置的检测方法,在本发明中,位置检测的精度由离散化数列的项差决定,可以根据所需精度,来确定离散化数列的相关特征,如项差,项数等,本发明将被测量物体和检测单元发生相对位移或相对转动时,检测单元输出余弦及正弦信号,在一个周期内信号的相位角和位移或转角成正比,通过建立构造函数F(x)及H(x),F(x)∝x且有F(x+kπ/4)

(19)中华人民共和国国家知识产权局 (12)发明专利 (10)授权公告号 CN 112268501 B (45)授权公告日 2022.03.04 (21)申请号 202010914983.5 G01B 7/30 (2006.01) (22)申请日 2

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