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本发明公开了一种故障定位自测试系统和方法,该系统包括光耦隔离电路、PXI机箱、分析单元、信号调理器、数字信号缓冲器、上位计算机及微处理器,其中PXI机箱包括PXI机箱背板,PXI机箱背板上插有自激励响应模块、三用表模块、通讯模块、功率计算模块、采样保持电路和AD模块,分析单元包括电压电流分析模块、数字信号分析模块、功率分析模块及波形分析模块。与现有测试系统相比,在测试系统中增加了故障定位和便携功能,将现有的测试系统改进为BIT技术的便携设备,从而满足故障特征提取、知识库的建立和可携带办公设备的实
(19)中华人民共和国国家知识产权局
(12)发明专利申请
(10)申请公布号 CN 112269364 A
(43)申请公布日 2021.01.26
(21)申请号 202010958736.5
(22)申请日 2020.09.14
(71)申请人 北京电子工程总体研究所
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