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本发明公开了一种eMMC质量检测修复方法、装置及存储介质,其中该方法包括:读取eMMC芯片的协议版本信息及生产日期,非失真寄存器及只读信息,获取所述eMMC芯片的第一质量状态;读取所述eMMC芯片的数据存储区,判断是否全为默认值,提取分区特征,获取所述eMMC芯片的第二质量状态;对所述eMMC芯片进行读取擦除性能检测,获取所述eMMC芯片的第三质量状态;根据第一质量状态、第二质量状态及第三质量状态生成所述eMMC芯片的质量评估结果;根据所述质量评估结果,对所述非失真寄存器开启的功能进行关闭,通过
(19)中华人民共和国国家知识产权局
(12)发明专利申请
(10)申请公布号 CN 112289364 A
(43)申请公布日 2021.01.29
(21)申请号 202011088371.1
(22)申请日 2020.10.13
(71)申请人 珠海全志科技股份有限公司
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