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本发明涉及芯片散热技术领域,具体公开了一种芯片散热验证装置,包括高低温箱,高低温箱的上端面设置有风速调节系统,高低温箱的内部通过发热源拖台固定有发热源,发热源的上方设置有目标验证散热片,发热源的底部设置有温度计,发热源拖台的底部设置有拖台旋转摇杆,拖台旋转摇杆可转动的安装在高低温箱的内壁上,高低温箱的前端面分别设置有显示屏、第一温度调节按键、第二温度调节按键、第一风速调节按键以及第二风速调节按键。本发明提供的芯片散热验证装置,通过铝块包裹电阻模拟芯片发热,以高低温箱模拟芯片工作环境,测试目标散热
(19)中华人民共和国国家知识产权局
(12)发明专利申请
(10)申请公布号 CN 112269122 A
(43)申请公布日 2021.01.26
(21)申请号 202011300854.3
(22)申请日 2020.11.19
(71)申请人 无锡太机脑智能科技有限公司
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