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一种基于J750的高压高精度模数转换器的测试装置及方法.pdfVIP

一种基于J750的高压高精度模数转换器的测试装置及方法.pdf

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    本发明属于模拟集成电路测试领域，具体涉及一种基于J750的高压高精度模数转换器的测试装置及方法。采用高压高精度DAC设置与测试板上，所述高压高精度DAC与位于测试板上的待测高压高精度模数转换器连接，所述J750的DISO_SOURCE作为DAC的数字源，J750的高精度测量单元DC_METER对DAC与待测高压高精度模数转换器的参考电压进行校准后，再控制DAC输出模拟信号，并由J750的DSIO_CAPTURE采集待测高压高精度模数转换器的转换数据。实现了高压高精度模数转换器的低成本、高效、高精

    (19)中华人民共和国国家知识产权局 (12)发明专利申请 (10)申请公布号 CN 112311393 A (43)申请公布日 2021.02.02 (21)申请号 20191

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