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本发明公开了一种超声波对射测厚仪及其测厚方法,设置两个位于同一水平位置的超声波探头;待测物呈竖直安放在两个超声波探头之间,且待测物垂直于第一探头和第二探头的连线;启动两个超声波探头,分别测得两个探头发射超声波到接收超声波的时间t1和t2;查询超声波在空气中的传播速度C,计算得到待测物的厚度d。本发明具有的优点是本方法测试中,采用两个探头,将物体竖直放置在两个探头之间,即可以测量物体的厚度,过程中,不需要耦合剂,节省了测量成本;只需要得到在超声波空气中传播的速度,不需要知晓物体的材料成分,以及对不
(19)中华人民共和国国家知识产权局
(12)发明专利申请
(10)申请公布号 CN 112325814 A
(43)申请公布日 2021.02.05
(21)申请号 202011209217.5
(22)申请日 2020.11.03
(71)申请人 成都锐科软控科技有限公司
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