一种半导体晶圆整体清洗设备.pdfVIP

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本发明涉及机械设备的技术领域,特别是涉及一种半导体晶圆整体清洗设备,其通过对晶圆进行自动清洗处理,可有效节省人工清洗时的体力和时间,简化清洗方式,提高工作效率,同时设备运行时的稳定性较高,晶圆翻转清洗工作稳定性提高,方便对晶圆进行保护,减少晶圆破损,晶圆经过冲洗和清扫处理,可有效提高清洗效果,提高实用性和可靠性;包括清洗仓、仓门、把手、中控箱和导水盘,清洗仓的前侧连通设置有仓口,仓门铰接在仓口上,把手安装在仓门上,中控箱安装在清洗仓上,导水盘位于清洗仓内部上侧,导水盘的内部设置有第一腔体,清洗仓

(19)中华人民共和国国家知识产权局 (12)发明专利申请 (10)申请公布号 CN 112309923 A (43)申请公布日 2021.02.02 (21)申请号 202011249959.0 (22)申请日 2020.11.10 (71)申请人 太仓治誓机械设备科技有限公司

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