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2023-05-27 发布于四川
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一种扫描调制式激光颗粒度测量装置.pdf

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本发明公开的一种扫描调制式激光颗粒度测量装置，属于材料分析测量领域。本发明主要由光强调制准直激光器、主框架、透明样品池、小孔光电探测器、扫描电机以及配套的驱动、采集、信号处理系统组成。利用机械扫描方案取代传统的分布式多探测器布局方案，实现对粉末颗粒衍射散射光分布规律的探测，具有结构简单、成本低、探测器数量少、角度分辨力高、信号处理过程简单的优点。利用交流调制的激光光源取代传统的光强稳定光源，实现交流光电接收、窄带交流放大，有效抑制阳光、照明光等环境光对测量系统的干扰，从而取消体积庞大的暗室和避光

(19)中华人民共和国国家知识产权局 (12)发明专利申请 (10)申请公布号 CN 112326517 A (43)申请公布日 2021.02.05 (21)申请号 202011235629.6 (22)申请日 2020.11.06 (71)申请人中国航空工业集团公司北京长城计

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