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本发明公开了成像方法、控制序列测定反应的方法、装置及系统。成像方法用于光学检测系统,光学检测系统包括成像装置和承载装置,承载装置包括温控装置和载台,成像装置包括镜头模组,镜头模组包括光轴,载台用于承载样品,温控装置用于调节样品的温度,成像方法包括:在利用成像装置对样品进行图像采集之前或者在利用成像装置对样品进行图像采集时,利用温控装置设定允许样品的温度波动的范围,以使镜头模组沿光轴的位置波动范围位于预设范围内。如此,利用上述成像方法,能够将镜头模组的位置波动范围控制在预设范围内,减少或避免对成像
(19)中华人民共和国国家知识产权局
(12)发明专利
(10)授权公告号 CN 112326652 B
(45)授权公告日 2021.09.03
(21)申请号 201710855394.2 CN 101438147 A,2009.05.20
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