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本发明属于数字集成电路测试领域,具体涉及一种基于数字信号集成电路测试系统EVA100的DDR3功能测试平台,该平台包括EVA100测试机台、FPGA中控板和待测DDR3芯片,其中FPGA中控板包括FPGA最小系统,电源配电网络、LED电路、DDR3电路、EVA控制接口电路,FPGA最小系统包括FPGA芯片、时钟电路、复位电路和配置电路;其中FPGA芯片中包括信号同步处理模块以及DDR3测控模块,信号同步处理模块通过EVA控制接口电路实现与EVA100测试机台之间的数据收发,对来自EVA100测试
(19)中华人民共和国国家知识产权局
(12)发明专利申请
(10)申请公布号 CN 112305412 A
(43)申请公布日
2021.02.02
(21)申请号 20191
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