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本发明涉及内存条拔插测试设备领域,更具体地说,涉及一种内存条拔插寿命测试机,包括动力机构、推架机构、缓冲架机构、内存条夹具机构、测试插座机构和基座,所述动力机构固定连接在所述基座上,所述动力机构传动连接所述推架机构,所述推架机构配合连接在所述基座上;所述缓冲架机构的外端与所述推架机构配合连接,所述缓冲架机构的内端固定连接所述内存条夹具机构;所述内存条夹具机构与所述测试插座机构相对设置;所述测试插座机构配合连接在所述基座上。本发明内部内存条夹具机构带动夹持在其内侧的内存条运动的距离进行调节,便于带
(19)中华人民共和国国家知识产权局
(12)发明专利申请
(10)申请公布号 CN 112326230 A
(43)申请公布日 2021.02.05
(21)申请号 202011413090.9
(22)申请日 2020.12.04
(71)申请人 程迎春
地址 510
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