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自动化测试Log的存储方法、系统、设备及存储介质.pdfVIP

自动化测试Log的存储方法、系统、设备及存储介质.pdf

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    本发明公开了一种自动化测试Log的存储方法、系统、设备及存储介质，所述存储方法包括：检测当前周期内测试设备是否有异常，若是，则将当前周期内生成的当前测试Log存储至预设的有用存储区；从预设的临时存储区内提取前一周期存储的历史测试Log；将历史测试Log存储至有用存储区。本申请有效保证异常点附近的Log的完整性，节约了由于Log不完整导致的重新进行问题复现和重新抓取Log等人力和时间成本，同时可以减小Log占用空间，缩短Log获取时间。

    (19)中华人民共和国国家知识产权局 (12)发明专利申请 (10)申请公布号 CN 112363934 A (43)申请公布日 2021.02.12 (21)申请号 202011257862.4 (22)申请日 2020.11.11 (71)申请人 展讯半导体（成都）有限公司

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