一种晶圆片的寿命测试方法.pdfVIP

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本发明提供一种晶圆片的寿命测试方法,步骤包括:氧化,至少在晶圆片的一个表面上形成一层氧化膜;钝化,在具有所述氧化膜的其中一个所述晶圆片表面上进行电荷沉积;测试,再对钝化后的所述晶圆片表面进行寿命测试。本发明测试方法为无损检测,无需对晶圆片进行化学钝化,即可对晶圆片体内载流子寿命进行检测,测试结果准确且测试效率高,测试完成后可以继续对晶圆片进行其他理化性质方面的检测及测试,提高晶圆片的利用率,节约成本。

(19)中华人民共和国国家知识产权局 (12)发明专利申请 (10)申请公布号 CN 112366146 A (43)申请公布日 2021.02.12 (21)申请号 202011221913.8 (51)Int.Cl.

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