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2023-05-28 发布于四川
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一种相控阵超声校准试块及校准方法.pdf

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本发明公开了一种相控阵超声校准试块及校准方法，该试块包括试块基体、横通孔、吸声材料、刻度。其中试块基体正面为矩形，横通孔垂直于试块基体正面，吸声材料设置在试块基体的左下角和右上角，刻度在试块基体的上表面和下表面。本发明通过将不同深度的横通孔在横向错开设置，实现了在一次耦合中、沿着试块上表面或下表面横向扫查便可获得不同深度、不同折射角的相控阵超声探头的横通孔回波，实现了TCG的有效校准，减少了测量时间，精简了校准程序；通过在左下角和右上角设置吸声材料和消声槽，大大降低了试块的端角反射回波，使得即使

(19)中华人民共和国国家知识产权局 (12)发明专利申请 (10)申请公布号 CN 112362758 A (43)申请公布日 2021.02.12 (21)申请号 202011317567.3 (22)申请日 2020.11.20 (71)申请人西安热工研究院有限公司

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