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本发明公开了一种金刚石薄膜厚度及光学常数检测方法,先依据椭偏光谱数据及吸收光谱数据判断金刚石薄膜是单晶金刚石薄膜或多晶金刚石薄膜,再依据光谱数据分别选择不同计算方式以获光学常数和薄膜厚度,一方面不仅能获折射率和薄膜厚度,而且还能获消光系数,另一方面,单晶金刚石薄膜采用Cauchy模型计算以获光学常数和薄膜厚度,多晶金刚石薄膜则选择波段并依据振子模型和评价函数MSE计算以获光学常数和薄膜厚度,因此可检测单晶及多晶金刚石薄膜,能获光学常数折射率、消光系数和厚度,检测精度高、测量时间短。
(19)国家知识产权局
(12)发明专利
(10)授权公告号 CN 112361973 B
(45)授权公告日 2022.07.29
(21)申请号 202011296380.X G01N 21/31 (2006.01)
(22)申请日 2020.11
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