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本发明属于微纳气泡性质测量领域,涉及到一种微纳米气泡内部压力计算方法。该方法用于准确估算微纳米气泡的内部压强。其应用Zeta电位仪测量微纳米气泡的平均Zeta电位,Nano‑SightNS300得到微纳米气泡的平均粒径,通过方程计算出气泡表面的电荷密度,利用表面电荷密度与表面张力系数之间的关系,计算表面张力系数,代入拉普拉斯方程计算气泡内部压力。该方法打破了传统的拉普拉斯方程方法的计算局限,避免了其计算过程中忽略气泡表面电荷所带来的误差,弥补了单独依靠拉普拉斯方程方法在计算微纳米气泡内部压力的
(19)中华人民共和国国家知识产权局
(12)发明专利
(10)授权公告号 CN 112345434 B
(45)授权公告日 2022.02.15
(21)申请号 202011144104.1 (51)Int.Cl.
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