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本发明公开了一种定向自组装制备半导体纳米器件结构的方法,在半导体衬底上形成硬掩膜层、心轴层、光刻堆叠层以及缓冲层,引导图案形成在缓冲层表面,之后旋涂嵌段共聚物(BCP)经退火后形成定向自组装(DSA)图案。然后将DSA图案依次转移到缓冲层、光刻堆叠层和心轴层上,再结合自对准侧墙转移技术进一步对自组装图形进行微缩和图案化,由此在半导体衬底上形成半导体纳米器件结构图形。本发明将定向自组装图形转移技术与自对准侧墙转移技术相结合,技术方案与当前的集成电路制造工艺相兼容,通过尺寸微缩可以实现10nm以下尺
(19)中华人民共和国国家知识产权局
(12)发明专利申请
(10)申请公布号 CN 112366137 A
(43)申请公布日 2021.02.12
(21)申请号 202011122236.4
(22)申请日 2020.10.20
(71)申请人 成都工业学院
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