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半导体装置(1)具有:半导体层(40),具有主面(40a及40b);金属层(31),具有主面(31a及31b),主面(31a)与主面(40b)接触,比半导体层(40)厚,由第1金属材料构成;金属层(30),具有主面(30a及30b),主面(30a)与主面(31b)接触,比半导体层(40)厚,由杨氏模量比第1金属材料大的金属材料构成;以及晶体管(10及20);晶体管(10)在半导体层(40)的主面(40a)侧具有源极电极(11)及栅极电极(19);晶体管(20)在半导体层(40)的主面(40a)侧
(19)中华人民共和国国家知识产权局
(12)发明专利申请
(10)申请公布号 CN 112368845 A
(43)申请公布日 2021.02.12
(21)申请号 201980040521.0 (74)专利代理机构 永新专利商标代理有限公司
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