- 1、本文档共15页,其中可免费阅读14页,需付费10金币后方可阅读剩余内容。
- 2、本文档内容版权归属内容提供方,所产生的收益全部归内容提供方所有。如果您对本文有版权争议,可选择认领,认领后既往收益都归您。
- 3、本文档由用户上传,本站不保证质量和数量令人满意,可能有诸多瑕疵,付费之前,请仔细先通过免费阅读内容等途径辨别内容交易风险。如存在严重挂羊头卖狗肉之情形,可联系本站下载客服投诉处理。
- 4、文档侵权举报电话:400-050-0827(电话支持时间:9:00-18:30)。
- 5、该文档为VIP文档,如果想要下载,成为VIP会员后,下载免费。
- 6、成为VIP后,下载本文档将扣除1次下载权益。下载后,不支持退款、换文档。如有疑问请联系我们。
- 7、成为VIP后,您将拥有八大权益,权益包括:VIP文档下载权益、阅读免打扰、文档格式转换、高级专利检索、专属身份标志、高级客服、多端互通、版权登记。
- 8、VIP文档为合作方或网友上传,每下载1次, 网站将根据用户上传文档的质量评分、类型等,对文档贡献者给予高额补贴、流量扶持。如果你也想贡献VIP文档。上传文档
查看更多
本发明涉及分立器件老化试验技术领域,具体涉及一种用于低功率分立器件的综合老化试验箱,包括试验箱底台,试验箱底台的底端面通过螺栓固定有若干个可调脚,试验箱底台的上端固定有老化试验箱本体,老化试验箱本体包括上箱体和下箱体,上箱体的内部设有控制室及两个第一腔体,控制室的内部安装有控制箱,且其前端安装有固定门板,固定门板的正面设置有显示屏、工作状态指示区及控制按键区,两个第一腔体的前端均通过铰链安装有上密封门;下箱体的内部开设有两个第二腔体,且两个第二腔体的前端均通过铰链安装有下密封门;本发明可带动老化
(19)中华人民共和国国家知识产权局
(12)发明专利申请
(10)申请公布号 CN 112379239 A
(43)申请公布日 2021.02.19
(21)申请号 202011107887.6
(22)申请日 2020.10.16
(71)申请人 安徽晶谷周界微电子股份有限公司
文档评论(0)