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芯片验证中辅助波形debug的方法及应用.pdfVIP

芯片验证中辅助波形debug的方法及应用.pdf

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    本发明公开了芯片验证中辅助波形debug的方法及应用，涉及芯片开发技术领域。所述方法包括如下步骤：在运行测试案例的过程中，根据测试案例运行的顺序针对各个配置文件中的每一行配置生成一中间文件；所述配置文件是基于第一类寄存器的寄存器配置信息文件，所述中间文件用于记录第一类寄存器到各个其它类型寄存器的系统文件的配置对应关系，以及每个配置所在的测试案例文件名称和行数；输出运行生成的波形文件，在波形debug时，根据用户对波形的触发操作获取被触发的配置对象，并输出该配置对象所在的测试案例文件名称和行数。本

    (19)中华人民共和国国家知识产权局 (12)发明专利申请 (10)申请公布号 CN 112346918 A (43)申请公布日 2021.02.09 (21)申请号 202011155942.9 (22)申请日 2020.10.26 (71)申请人 眸芯科技（上海）有限公司

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