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芯片测试治具.pdf

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    本申请公开了一种芯片测试治具。该芯片测试治具包括：散热座，设有连通的管脚孔和容置腔；绝缘件，固定于容置腔内，设有安装孔，安装孔与管脚孔连通；给电件，固定于安装孔；其中，散热座用于与芯片的热沉相接触，芯片的管脚经管脚孔与给电件电连接，经给电件上电以对芯片进行测试。通过将绝缘件设置于散热座的容置腔，给电件设置于绝缘件的安装孔，且安装孔与散热座的管脚孔相通，本申请提供的芯片测试治具能够给电可靠且可实现提高连续注入的测试电流值。

    (19)中华人民共和国国家知识产权局 (12)发明专利申请 (10)申请公布号 CN 112415359 A (43)申请公布日 2021.02.26 (21)申请号 202011061749.9 (22)申请日 2020.09.30 (71)申请人 深圳瑞波光电子有限公司

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