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本发明公开了一种基于图像处理的晶界提取及晶粒度测量方法,包括:在检测晶界时,采取分段模糊处理的方式,对金相组织的边缘进行晶界检测;在使用极限腐蚀分割晶粒时,采取4邻域和8邻域逐层交替腐蚀的方式,在每一层腐蚀完成后,计算剩余晶粒的连通面积,使面积较小的晶粒不参与下一次的腐蚀,保留小的晶粒,从而提高检测精度;最后对晶界进行细化剪枝处理,得到清晰的闭合晶界。根据标准方法,对微观组织进行自动分析。本发明可以从金相图像中准确提取晶界,并有效提高晶粒度测量的效率及精度。
(19)中华人民共和国国家知识产权局
(12)发明专利
(10)授权公告号 CN 112396618 B
(45)授权公告日 2022.02.18
(21)申请号 202011262628.0 G06T 5/30 (2006.01)
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