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本发明涉及一种用于X射线散射材料分析的方法,尤其涉及用于小角度X射线散射材料分析的方法,所述方法包括:‑生成入射X射线束并引导所述入射X射线沿传播方向(X)到保持在样本环境中的样本;执行包括以下步骤的样本测量过程:通过布置在所述样本环境下游的区域检测器(10)确定从所述样本散射的X射线的分布;以及通过所述检测器(10)确定透射通过所述样本的X射线束的强度(It);执行包括以下步骤的样本数据处理过程:通过将取决于所述透射强度的校正应用于所述散射X射线分布来确定校正后散射X射线分布;执行包括以下步骤
(19)中华人民共和国国家知识产权局
(12)发明专利申请
(10)申请公布号 CN 112424590 A
(43)申请公布日 2021.02.26
(21)申请号 201980046613.X (74)专利代理机构 广州嘉权专利商标事务所有
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