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本发明涉及一种随机数双比特检验的优化实现方法及其装置,该方法的特点是,在非易失存储器中建立四个不同的查找表,供调用,输入待检字节序列和显著性水平α,初始化比特串“00”、“01”、“10”、“11”的个数计数器,将待检字节序列分段,即当前待检字节的低5个比特为一段,当前待检字节的高4个比特及随后待检字节的最低1比特为一段,以此类推,分段查表统计频数,更新计数器,修正频数,计算1比特频数,计算统计量V,计算P值,最后判定结果。本发明方法按4比特分段处理字节序列,结合查表做频率统计,计算量大幅下降,
(19)中华人民共和国国家知识产权局
(12)发明专利申请
(10)申请公布号 CN 112417474 A
(43)申请公布日 2021.02.26
(21)申请号 202011316932.9
(22)申请日 2020.11.20
(71)申请人 无锡职业技术学院
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