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本发明涉及测试SRAM的方法、装置、计算机设备及存储介质;其中,方法,包括:对待测试的内存进行标识,生成测试数据;对待测试的内存进行读操作,获取读数据;将测试数据与读数据进行比较测试,获取比较测试结果,并输出比较测试结果至待测试的内存。本发明支持在运行真实应用场景的时候,同时测试相关的SRAM,用于支持检测一些极端环境引发的问题,能够迅速排查是否是SRAM失效引起的,也可以用于工艺角在实际应用场景中可能带来的问题,能够使mbist测试更健壮,实际使用灵活,能够更好地满足需求。
(19)中华人民共和国国家知识产权局
(12)发明专利申请
(10)申请公布号 CN 112420117 A
(43)申请公布日 2021.02.26
(21)申请号 202011302401.4
(22)申请日 2020.11.19
(71)申请人 深圳忆联信息系统有限公司
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