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2023-05-29 发布于四川
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一种黑体辐射源辐射温度的探测方法.pdf

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本发明公开了一种黑体辐射源辐射温度的探测方法，包括以下步骤，步骤1)、采用两通道探测设备对黑体辐射源的辐射温度进行探测，并直接获取两通道探测设备的两个探测通道的响应系数二维分布，设两个探测通道的响应系数二维分布分别为η1和η2，获得响应系数的比值二维分布为k，k＝η1/η2；步骤2)、黑体辐射源发出的X射线分别同时穿过两个探测通道，两通道探测设备的两个探测通道分别同时记录X射线穿过其中形成的两幅单能X射线像，两幅单能X射线像对应的黑体辐射源发出的X射线频率为ν1和ν2；步骤3)、利用黑体辐射标准

(19)中华人民共和国国家知识产权局 (12)发明专利申请 (10)申请公布号 CN 112414563 A (43)申请公布日 2021.02.26 (21)申请号 202011286298.9 (22)申请日 2020.11.17 (71)申请人中国工程物理研究院激光聚变研究

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