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本发明提供一种测试及修复装置以及测试及修复方法。测试及修复装置包括多个测试板、至少一修复板以及主机。多个测试板分别搭载多个待测内存模块。所述多个待测内存模块分别包括多个待测内存芯片。主机通过所述多个测试板对所述多个待测内存芯片进行测试。将待修复内存模块或待修复内存芯片移动至修复板,并且通过至少一修复板对待修复内存芯片进行修复。
(19)中华人民共和国国家知识产权局
(12)发明专利申请
(10)申请公布号 CN 112397135 A
(43)申请公布日 2021.02.23
(21)申请号 202011229184.0
(22)申请日 2020.11.06
(71)申请人 润昇系统测试(深圳)有限公司
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