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本发明专利提供了判别GIS内绝缘材料劣化程度的气敏光纤传感器及方法,由宽带光源、偏振器、测试气室、D型光子晶体光纤、单模光纤、光谱分析仪和计算机组成;光纤传感器位于测试气室内,测试气室内有控制四氟化碳气体的入口和出口;D型光子晶体光纤侧面抛光表面涂覆铂复合石墨烯薄膜,与D型光子晶体光纤熔接的单模光纤、涂覆铂复合石墨烯薄膜的D型光子晶体光纤一起构成所述的判别GIS内绝缘材料劣化程度的气敏光纤传感器的探头。利用SPR传感机制,将四氟化碳气体折射率RI的微小变化转换成可测量的损耗峰的变化,实现折射率传
(19)国家知识产权局
(12)发明专利
(10)授权公告号 CN 112433132 B
(45)授权公告日 2022.07.01
(21)申请号 202011298533.4 CN 110579726 A,2019.12.17
(22)申请日 20
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