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本发明公开了一种利用扩展I2C协议调试芯片的方法、存储介质、电子设备,该方法包括:扩展I2C协议至通信时隙外,定义一个调试状态:开始和停止调试的条件是保持SDA高电平,且SCL分别为高‑低电平切换和低‑高电平切换,在调试状态下对芯片进行调试;在I2C接口空闲时利用SCL处于高电平的特性作为输入,结合逻辑电路隔离I2C接口。本发明利用扩展I2C协议调试芯片的方法通过扩展I2C协议至通信时隙外,定义一个调试状态,在该调试状态下可以进行芯片调试而不影响I2C已经写入寄存器的值,同时,利用I2C接口本身
(19)中华人民共和国国家知识产权局
(12)发明专利申请
(10)申请公布号 CN 112486756 A
(43)申请公布日 2021.03.12
(21)申请号 202011354812.8
(22)申请日 2020.11.26
(71)申请人 江苏科大亨芯半导体技术有限公司
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