一种高更新频率的电控双光学频率梳测距系统.pdfVIP

一种高更新频率的电控双光学频率梳测距系统.pdf

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本发明公开一种高更新频率的电控双光学频率梳测距系统,包括重复频率锁定环路、高压信号发生器、本振光纤飞秒激光器、信号光纤飞秒激光器、光纤延迟线、环形器、第一准直器、参考半反射镜、目标反射镜、第一光纤滤波器、第二光纤滤波器、第一光纤衰减器、第二光纤衰减器、光纤干涉器、平衡探测器、低通滤波器、计算机;利用电光晶体的超高调制带宽,对信号光序列的重复频率进行快速调制,通过光纤延迟线的设计使得信号光脉冲的快速调制能够使得信号光与本振光一直处于异步光学降采样阶段。对比传统的双光梳测距技术大大提高了脉冲干涉时间

(19)国家知识产权局 (12)发明专利 (10)授权公告号 CN 112505716 B (45)授权公告日 2022.05.17 (21)申请号 202011256776.1 CN 108917643 A,2018.11.30 (2

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