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2023-05-31 发布于四川
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基于多层PCA高斯过程的微带天线物理尺寸提取方法.pdf

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本发明公开了一种基于多层PCA高斯过程的微带天线物理尺寸提取方法，包括：1、构建样本集；2、构建微带天线物理尺寸提取模型；3、采用样本集对微带天线物理尺寸提取模型进行训练；4、对待设计的微带天线的S曲线进行q点采样，构成q维S采样点向量Xd，将Xd与训练样本的S采样点向量组合为矩阵M′，将矩阵M′输入到训练好的微带天线物理尺寸提取模型中，得到待设计的微带天线的尺寸参数向量。该方法对微带天线进行逆建模，建立微带天线S曲线与物理尺寸参数之间的映射，从而能够根据微带天线的S曲线直接快速地预测出天线的物

(19)国家知识产权局 (12)发明专利 (10)授权公告号 CN 112487713 B (45)授权公告日 2022.05.17 (21)申请号 202011343115.2 G06K 9/62 (2022.01) (22)申请日 2020.11.

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