交叉验证算法优化LSTM网络继电器贮存寿命预测方法.pdfVIP

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2023-05-31 发布于四川
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交叉验证算法优化LSTM网络继电器贮存寿命预测方法.pdf

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本发明属于继电器贮存寿命预测算法优化领域，具体地说，是一种交叉验证算法优化LSTM网络的电磁继电器贮存寿命预测方法。为了提高贮存寿命的预测精度，本发明将对加速贮存试验采集到的原始性能参数信息进行图像分析、统计学分析等初步分析，针对LSTM模型参数较难选取的问题，利用交叉验证的方法进行LSTM模型参数的寻优，尽量保证所选参数的准确性，确定后续贮存寿命预测所需的敏感参数。为了进一步地提高预测结果的精准性，采用交叉验证优化长短记忆神经网络对继电器的贮存寿命进行预测。

(19)中华人民共和国国家知识产权局 (12)发明专利申请 (10)申请公布号 CN 112488295 A (43)申请公布日 2021.03.12 (21)申请号 202011325159.2 (22)申请日 2020.11.23 (71)申请人江苏科技大学地址

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