半导体废弃封装材的二氧化硅再生方法.pdfVIP

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本发明公开了一种半导体废弃封装材的二氧化硅再生方法,其方法如下:将废弃封装材进行破碎;将所得的封装材碎片置于承载盘,置入一烘箱进行裂化处理,使热固性树脂产生缺陷或裂隙,或使热固性树脂与二氧化硅粉体的接口产生裂隙或分离;将裂化处理所得的封装材碎片,置入加热分解槽,再加入分解液进行分解;将已分解完成的封装材及分解液,以第一压滤机过滤,得到二氧化硅滤饼,将此滤饼置入清洗槽以纯水进行搅拌清洗;将清洗完成的二氧化硅以第二压滤机过滤,得到白色的二氧化硅滤饼;将所得的二氧化硅滤饼进行烘干;将所得的块状二氧化硅

(19)中华人民共和国国家知识产权局 (12)发明专利申请 (10)申请公布号 CN 112499636 A (43)申请公布日 2021.03.16 (21)申请号 202011254808.4 (22)申请日 2020.11.11 (71)申请人 成信实业股份有限公司

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