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一种测试和测量装置,包括:输入,其被配置为从待测试装置(DUT)接收模拟信号;模拟到数字转换器(ADC),其耦合到输入并且被构造为将模拟信号转换成数字信号;接收器,其被实现在第一现场可编程门阵列(FPGA)中并且被构造为接受数字信号并且对数字信号执行信号分析;发射器,其被实现在第二FPGA中并且被构造为生成数字输出信号;以及数字到模拟转换器(DAC),其耦合到发射器并且被构造为将来自发射器的数字输出信号转换成模拟信号,并且被构造为将模拟信号发送到DUT。接收器和发射器被通过高速数据链路耦合在一起
(19)中华人民共和国国家知识产权局
(12)发明专利申请
(10)申请公布号 CN 112534282 A
(43)申请公布日 2021.03.19
(21)申请号 201980053616.6 (74)专利代理机构 中国专利代理(香港)有限公
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