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2023-06-01 发布于四川
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X射线测量装置的校正方法.pdf

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本发明提供一种X射线测量装置的校正方法，包括：载置工序，将校正治具载置于旋转台；移动位置获取工序，使第j个球的位置相对于第1个球的位置平行移动，向校正治具照射X射线，并从X射线图像检测器的输出中获取第j个球的投影像的重心位置相对于第1个球的投影像的重心位置的差位置的大小为规定值以下的移动位置；相对位置计算工序，对其余的球进行移动位置获取工序，根据各个移动位置来计算特定的相对位置间隔；特征位置计算工序；变换矩阵计算工序；旋转检测工序；位置计算工序；以及中心位置计算工序。由此，即使校正治具由于经年变

(19)中华人民共和国国家知识产权局 (12)发明专利申请 (10)申请公布号 CN 112556611 A (43)申请公布日 2021.03.26 (21)申请号 202010946721.7 (22)申请日 2020.09.10 (30)优先权数据 2019-1649

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