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本公开的目的是在适合测量对象的适当条件下,能够进行利用频谱移位的振动分析。本公开的振动分布测量装置,是在不同时间对被测量光纤中的后向散射光进行多次测量,从测量得到的多个后向散射光波形中提取确定的窗区间的光谱,并使用提取的所述多个后向散射光波形的光谱来测量所述被测量光纤中的振动分布的振动分布测量装置;所述振动分布测量装置使用所述被测量光纤在所述窗区间的振动振幅比在所述窗区间确定的阈值大的窗区间,计算出该窗区间的光谱。
(19)国家知识产权局
(12)发明专利申请
(10)申请公布号 CN 116194740 A
(43)申请公布日 2023.05.30
(21)申请号 202080104705.1 (51)Int.Cl .
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