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本发明提供了一种样本分析系统及控制样本分析系统的方法,样本分析系统包括:多个离心模块,用于对待测样本进行离心操作;多条轨道,分别连接至各个离心模块;调度装置,用于通过所述轨道将所述待测样本调度到相应离心模块以进行离心操作;控制器,用于基于所述待测样本的测试项目来设置各个离心模块的离心时间。根据本发明的样本分析系统及控制样本分析系统的方法,根据待测样本的测试项目类型来设置离心模块的离心时间,能够有效地减少离心时间冗余,提高离心效率,并减少系统的TAT时间。
(19)中华人民共和国国家知识产权局
(12)发明专利申请
(10)申请公布号 CN 112577791 A
(43)申请公布日
2021.03.30
(21)申请号 20191
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